专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1301152个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [其他]响应阵列-CN88102359无效
  • 米罗斯拉夫·翁德里斯 - 斯坦科尔公司
  • 1988-04-16 - 1988-12-14 - H01J40/14
  • 一种感测多个位置电磁辐射强度的阵列中应用光电和非响应二极管网络。各光电二极管的一端接到阵列一端的公共线。非响应二极管接成同极性串联。各响应二极管的第二端接到串联连接串中非响应二极管的一个不同连结点。用斜坡电压扫描该阵列,每一电流变化表示一光电二极管受照情况。
  • 响应阵列
  • [发明专利]响应阵列-CN88102359.0无效
  • 米罗斯拉夫·翁德里斯 - 斯坦科尔公司
  • 1988-04-16 - 1991-04-17 - H01J40/14
  • 一种感测多个位置电磁辐射强度的阵列,采用了光电和非响应二极管网络,各光电二极管的一端接到阵列一端的公共线。非响应二极管接成同极性串联。各响应二极管的第二端接到串联连接串中非响应二极管的一个不同连结点。用斜波电压扫描该阵列,每一电流变化表示一光电二极管受照情况。
  • 响应阵列
  • [发明专利]一种器件光谱响应测量方法、测量系统-CN201410145131.9有效
  • 潘时龙;薛敏;唐震宙;赵永久;张方正;朱丹 - 南京航空航天大学
  • 2014-04-11 - 2014-07-30 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种器件光谱响应测量方法,属于光学测量技术领域。本发明方法将单波长的探测信号分为两路,一路以固定的频移量进行移频操作,另一路通过待测器件;然后对两路进行拍频,得到携带待测器件在探测信号频率处的光谱响应信息的射频信号;利用工作频率与所述频移量相同的射频幅相提取装置提取所述射频信号的幅度相位信息,得到待测器件在探测信号频率处的幅频响应与相频响应;改变所述探测信号的波长并重复上述过程,得到待测器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种器件光谱响应测量系统。相比现有技术,本发明能够在实现器件幅频响应和相频响应的高精度测量的同时,大幅降低成本。
  • 一种器件光谱响应测量方法测量系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top