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[发明专利]一种染发样品中痕量毒品的快速检测方法-CN202111197231.2有效
发明人：杨良保;王慧慧;林东岳 -专利权人：安徽中科赛飞尔科技有限公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提出的一种染发样品中痕量毒品的快速检测方法，包括：将染发样品经铝矾土吸附后用异丁烯酸和环己烷的混合溶剂进行洗脱，所得洗脱液再用塞尔滤膜进行过滤，得到待测溶液；将所得待测溶液与SERS活性基底混合后进行拉曼光谱检测，得到染发样品中所含毒品的SERS图谱；将所含毒品的SERS图谱与标准SERS图谱比对后，即实现对染发样品中痕量毒品的快速检测。本发明提出的一种染发样品中痕量毒品的快速检测方法，通过对染发样品进行染发剂分离后进行SERS检测，建立了一种基于分离与SERS超灵敏检测染发样本中毒品的方法，相比于传统的染发样品检测来说，具有方法简单高效
一种染发样品痕量毒品快速检测方法

[发明专利]一种LFA系列激光导热仪用样品夹具及其应用方法-CN202210049096.5有效
发明人：张献;蒋淼;肖超;王艳艳;丁欣;田兴友 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N25/18 文献下载
摘要：本发明属于激光导热仪测量领域，具体涉及一种LFA系列激光导热仪用样品夹具及其应用方法，目的在于提高仪器对低导热样品面内热扩散系数测量精度。该样品夹具包括低导热材质的夹具底座和夹具固定板，夹具底座和夹具固定板连接样品的内壁增加凸起结构和气凝胶隔热膜，样品在测量时采用局部喷涂代替传统全覆盖喷涂，减少金属夹具和石墨层自身热传导对仪器信号采集的干扰本发明的LFA系列激光导热仪用样品夹具在测试时，可以有效的降低由于石墨涂层‑金属夹具‑样品直接接触时导致的额外热量扩散，对于低导热薄膜材料面内热扩散系数具有更高的测量精度。
一种 lfa 系列激光导热样品夹具及其应用方法

[实用新型]一种旋转校正平台-CN201720089340.5有效
发明人：陈松岩;王士奇;郭振雄;陈玉叶;刘畅 -专利权人：厦门福信光电集成有限公司;厦门大学
申请日： 2017-01-23 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于AOI检测的旋转校正平台，包括样品载台、与样品载台连接的安装台、与安装台连接的旋转驱动装置、安装在安装台上的直线驱动装置及由直线驱动装置驱动并伸出样品载台端面的定位块，本实用新型利用特定分布形态的定位块实现待检测样品在样品载台上的精确定位，利用样品载台形成的负压对待检测样品进行吸附，利用AOI设备的图像采集系统确定需旋转校正的角度，再由旋转驱动装置补偿角度，从而减少了在传统检测过程中的缺陷造成的系统误差及随机误差，也提高了产品的检测效率及检测过程中的检测精度
一种旋转校正平台

[实用新型]一种干酪根提取装置-CN201620420472.7有效
发明人：程维平;渠丽珍;郭敏;李琼;温晓桐 -专利权人：山西省地质矿产研究院
申请日： 2016-05-11 - 公布日： 2016-10-05 - 主分类号： B01D11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种干酪根提取装置，包括：样品仓、上盖、加液管、搅拌器、排气管、加热板、排液管、阀门和过滤装置；样品仓为单侧开口，样品仓开口端密封连接上盖，上盖穿置搅拌器、加液管和排气管，样品仓底部中心与加热板凹槽中心重叠开孔引出排液管，排液管上设有阀门，过滤装置置于样品仓内；所述过滤装置为单侧开口圆筒状虑袋，实现立体过滤，提高过滤速度；滤袋采用孔径为5um的聚四氟乙烯滤布，在保证过滤速度的前提下，避免样品跑漏，提高样品提取率，克服传统过滤纸容易破损的缺点
一种干酪提取装置

[实用新型]用于聚焦离子束制样工艺的透射电镜原位电学测试芯片-CN201821991585.8有效
发明人：车仁超;赵雪冰;张捷 -专利权人：复旦大学
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：包括硅基片和硅基片两面的绝缘层以及硅基片正面绝缘层上的金属电路；金属电路用于对样品施加或测量各种电信号；芯片外形为直径2.5–3.0 mm的圆割去一弓形区域后的大半圆形，使得芯片能够放置于样品杆的样品孔内；芯片的平直边缘中部开有用于放置样品的倒梯形缺口。本实用新型的原位测试芯片能够用于传统的3mm直径样品孔，可用于多种条件下的原位透射电镜观测；同时放置样品的位置在芯片边缘，便于使用聚焦离子束工艺制备样品。
芯片聚焦离子束透射电镜硅基片本实用新型电学测试金属电路制样绝缘层测试技术领域倒梯形缺口电子显微镜正面绝缘层大半圆形工艺制备弓形区域平直边缘芯片边缘芯片外形原位测试直径样品传统的样品杆样品孔可用测量观测施加

[实用新型]红外窗口材料高温透过率的测试装置-CN202122205523.8有效
发明人：李铮;毛忆铭 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-09-13 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：一种红外窗口材料的高温透过率的测试装置，采用热电偶测试区域优化，紧贴待测样品避免待在测试过程中由于热辐射和热传递导致待测样品的热损失，并利用电阻丝加热层和冷却水循环系统，进一步消除待测样品在测试过程中的温差干扰；采用待测样品精确定位构件，保证待测样品测试面与光路相垂直，减少测试面与光路的角度误差。本发明具有确保样品精确定位、样品接触式精确测温、操作简单灵巧、测试结果重复性好的特点，进一步扩大传统傅里叶红外光谱仪的测试用途，满足广大科研/研发工作者在高超极端环境领域亟需的测试需求。
红外窗口材料高温透过测试装置

[实用新型]一种LFA系列激光导热仪用样品夹具-CN202220111821.2有效
发明人：张献;蒋淼;肖超;王艳艳;丁欣;田兴友 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01N25/18 文献下载
摘要：本实用新型属于激光导热仪测量领域，具体涉及一种LFA系列激光导热仪用样品夹具，目的在于提高仪器对低导热样品面内热扩散系数测量精度。该样品夹具包括低导热材质的夹具底座和夹具固定板，夹具底座和夹具固定板连接样品的内壁增加凸起结构和气凝胶隔热膜，样品在测量时采用局部喷涂代替传统全覆盖喷涂，减少金属夹具和石墨层自身热传导对仪器信号采集的干扰本实用新型的LFA系列激光导热仪用样品夹具在测试时，可以有效的降低由于石墨涂层‑金属夹具‑样品直接接触时导致的额外热量扩散，对于低导热薄膜材料面内热扩散系数具有更高的测量精度。
一种 lfa 系列激光导热样品夹具

[实用新型]一种激光熔点仪的差热测量单元-CN202123028890.1有效
发明人：申俊华;杨志远;许娟;石峰;孟莹;王佳晨;张靖雪;杜丹;孙金阳;乔海峰;杨宁 -专利权人：中核北方核燃料元件有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N25/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及激光熔点仪技术领域，且公开了一种激光熔点仪的差热测量单元，包括传统差热传感器和新型差热传感器，所述新型差热传感器包括炉体温度测量热电偶、坩埚、样品测量热电偶，所述坩埚的底部与样品测量热电偶的一端活动连接，所述样品测量热电偶的另一端与炉体温度测量热电偶的一端活动连接。通过炉体温度测量热电偶和样品测量热电偶的差值来确定样品温度变化，由于炉温离样品较远，且中间存在反应管个保护层，从而使样品发生反应对炉温的影响很小，以达到提高测量精度的目的。
一种激光熔点测量单元

[实用新型]一种低温环境下带电子标签的标准样品袋-CN201020662835.0无效
发明人：陆清;陈枝楠;殷杰;包先雨;陈新;李军;张扬;郭云 -专利权人：深圳市检验检疫科学研究院
申请日： 2010-12-15 - 公布日： 2011-08-31 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种低温环境下带电子标签的标准样品袋，其包括袋体和电子标签，所述袋体为塑料材质，所述袋体上有标签夹层，所述电子标签密封在所述标签夹层内。通过采用电子标签和塑封技术，制造出一种新型标准样品袋以达到样品快速定位和信息查询的目的。其用于实验室中需要对低温环境下存储的实验样品快速定位、跟踪与相关信息查询的装置。该标准样品袋具有全球唯一的电子标识码，使用RFID读写器可以快速、准确读取电子标签内部信息，从而使该带RFID的标准样品袋具有快速识别、定位、信息查询和防止串货，以取代传统样品袋。
一种低温环境电子标签标准样品

[实用新型]可旋转式样品架-CN200320122750.3无效
发明人：吴树恩;程奕昊 -专利权人：上海棱光技术有限公司
申请日： 2003-12-23 - 公布日： 2004-12-15 - 主分类号： G01N21/13 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种可旋转式样品架。在传统光学测定仪中，用于放置被测样品器皿的样品架，均采用固定的结构，适用于透射法的光学测定。为此，本实用新型提供了一种可旋转式样品架，其为一种兼容性测试样品架，所述的样品架(1)安装在光学测定仪的底座(2)上，在所述的样品架(1)的底部有一个定位孔A，所述的定位孔A与仪器底座(2)上设置的定位销
旋转式样

[发明专利]一种溶液中残碱含量的测定方法及其应用-CN202010150211.9在审
发明人：姚思源;韩永前;白欧 -专利权人：凤阳泰和九思科技有限公司
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G01N31/16 文献下载
摘要：所述方法包括配制混合指示剂溶液；利用盐酸溶液滴定样品溶液；计算样品溶液中的残碱含量等步骤。本发明所提供的方法相较于传统的酚酞‑甲基橙方法操作更加简便，测试结果更加准确。
一种溶液中残碱含量测定方法及其应用

[发明专利]一种基于激光共聚焦扫描的膜孔结构及孔隙率测试方法-CN201610662830.X在审
发明人：王凯军;宫徽;张云 -专利权人：王凯军;宫徽;张云
申请日： 2016-08-13 - 公布日： 2017-01-25 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明提供一种基于激光共聚焦扫描（Confocal laser scanning microscopy，CLSM）的膜孔结构及孔隙率测试方法，包括样品的制备、样品的观察、数据的处理等三个步骤。传统的测试方法有扫描电镜法、透射电镜法、压汞法和氮气吸附法等，但它们各自都有诸多的缺点。例如，压汞法测试过程中所需的高压会使膜结构变形；透射电镜法和扫描电镜法样品制备耗时且对样品破坏大。本发明利用激光共聚焦扫描电镜测试膜孔结构及孔隙率，只需要用荧光染料对待测样品进行一次染色，可以在不破坏样品的情况下获得样品内部的信息，操作简便、对样品创伤小。同时，本发明测试样品时无需对其进行干燥处理，即在测试液体分离膜时，可以在接近膜使用的环境中测试样品，所得结果更加准确可靠。
一种基于激光聚焦扫描结构孔隙率测试方法

[发明专利]一种非破坏性的半导体材料SEM监控方法-CN201911293296.X在审
发明人：席庆男;王晓慧;许南发;李志 -专利权人：合肥元旭创芯半导体科技有限公司
申请日： 2019-12-16 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G03F7/00 文献下载
摘要：本发明属于半导体材料制备技术领域，提供了一种非破坏性的半导体材料SEM监控方法，该方法包括如下步骤：提供一样品，在样品上铺设软膜；对软膜加热，使其固化，得到转印模并将其从样品上取下；提供一硬质底板，在硬质底板上涂覆紫外压印胶，并利用物理压印方式将转印模上的图形压印到紫外压印胶层上；固化紫外压印胶层，取下转印模，得到监控样品；将监控样品进行破片检测。本发明通过转印方式，能够将测试样品的形貌转到涂覆有紫外压印胶的硬质底板上，转印精度高，从而在不破坏样品的情况下得到样品的形貌特征，相较传统的直接对样品破片进行检测的监控方式，该方法既保证了不破坏样品，又使得监控成本大大降低
一种破坏性半导体材料 sem 监控方法

[发明专利]一种样品预处理机构、用于直读光谱仪的全自动分析系统-CN202110171952.X在审
发明人：张腾飞 -专利权人：上海云必科技有限公司
申请日： 2021-02-08 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明适用于直读光谱检测设备技术领域，提供了一种样品预处理机构，包括：进样组件，取样组件，磨样组件和转移组件。本发明通过转移组件驱动取样组件沿x轴、y轴和z轴方向往复运动，实现取样组件从样品位抓取样品，并将抓取的样品转移到磨样组件进行打磨，以及将打磨后的样品转移到指定位置，或实现取样组件直接将从样品位抓取的样品转移到指定位置，从而将传统的人工操作进行样品预处理转化成机器进行样品预处理，一则提高了检测效率，二则能够应对庞大的工作量，不会出现因操作人员疲惫而产生的操作失误，保证了操作人员安全和降低了操作人员劳动强度。本发明还提供了一种包括上述样品预处理机构的用于直读光谱仪的全自动分析系统。
一种样品预处理机构用于直读光谱仪全自动分析系统

[发明专利]一种铜箔样品的裁切方法-CN202210802439.0在审
发明人：张泽兴;范云龙;陈赵 -专利权人：九江德福科技股份有限公司
申请日： 2022-07-07 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种铜箔样品的裁切方法，该方法包括以下步骤：S1将卷状铜箔裁切成长方形样条，再将长方形样条裁剪成不同尺寸铜箔样品；S2将铜箔样品放入激光裁切设备工作台面上，对铜箔样品进行固定；S3在激光裁切设备输入需要裁切的尺寸；S4调整激光器与铜箔样品之间的距离，启动设备进行激光裁切，得到裁切样品。该裁切方法通过激光裁切铜箔样品，切割稳定性好及切割断面微观缺陷少，能够解决传统机械方式裁切样品效率低、影响测试准确性的问题，从而达到保证裁切样品尺寸准确、切割断面平整，与常规机械裁切相比效率提升3‑5倍，裁切样品用于测试抗拉强度和延伸率测试数据重复性好，能更准确反应铜箔的内部结构和力学性能的目的。
一种铜箔样品方法