[发明专利]使用与失配计数相比较的可变基准的同步检测电路和方法无效
申请号: | 97113066.3 | 申请日: | 1997-04-26 |
公开(公告)号: | CN1111783C | 公开(公告)日: | 2003-06-18 |
发明(设计)人: | 森田和男 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G06F7/00 | 分类号: | G06F7/00;H04B5/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 邹光新,王忠忠 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在同步检测器中,把基带信号分割成多个连续的位序列,使每个序列的位相对于相邻序列的位移位一位位置。在逐位基础上检测在每个输入位序列和预定位序列之间的失配并计算检测的失配以产生一失配计数。在失配计数和基准值之间进行第一比较,如果失配地数等于或小于基准值确定检测同步码,在连续产生的失配计数之间进行另一比较,当连续产生的失配计数的后者等于或小于前一失配计数时确定检测同步码。当后一失配等于零时重复第一比较。 | ||
搜索关键词: | 使用 失配 计数 相比较 可变 基准 同步 检测 电路 方法 | ||
【主权项】:
1.一种同步检测器,包括:用于顺序地接收信号并把所述信号分割成多个连续的比特序列以使得每个序列的比特相对于相邻序列的比特位移位一个比特位置、以及用于在逐个比特的基础上连续地检测在每个比特序列和一个预定比特序列之间的失配的装置(10-12);一个用于连续地产生计数值的失配计数器(13),每一计数值表示检测到的失配数目;一个连接至所述失配计数器(13)的存储器,所述存储器初始地存储一个基准值,该基准值小于所述预定比特序列的一个最大比特数目;和比较器装置(15),用于将所述计数器(13)的输出与所述存储器的内容进行比较,并且用于当所述计数器输出变成等于或小于所述存储器内容时产生一个指示检测到一个同步码的输出信号,并且当所述计数器输出变成小于所述存储器内容时用所述计数器输出来更新所述存储器,并且当所述计数器输出变成等于零时用所述基准值来更新所述存储器,并且用于当所述计数器的输出大于所述存储器内容时在等待一个预定时间之后执行所述比较。
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