[发明专利]计数校验装置，计数系统和方法在审
| 申请号： | 201910700271.0 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN112307828A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 杨勇;王沈辉;张凇;于清松 | 申请（专利权）人： | 梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司;梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司;梅特勒-托利多国际贸易（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/34;G01G19/42 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 213125 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种计数校验装置，计数系统和计数方法，其中，所述计数校验装置包括：处理单元，用于对被计数对象的图像进行图像识别计数；计算单元，用于根据被计数对象的称重总重和预存储的质量分布信息，称重计数；判断单元，用于根据所述质量分布信息，判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，判定所述图像识别计数个数为被计数对象的计数个数，否则所述处理单元重新进行图像识别计数。通过所述计数校验装置，计数系统和计数方法，可以提高物品计数的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 计数 校验 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
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