[发明专利]一种带调试功能的芯片及芯片调试方法在审
| 申请号： | 202310817275.3 | 申请日： | 2023-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN116955032A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 黄翠;梁明兰;刘俭;涂龙;冯梦豪;徐超;李正平 | 申请（专利权）人： | 珠海普林芯驰科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 | 代理人： | 林永协 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种带调试功能的芯片及芯片调试方法，该带调试功能的芯片包括：寄存器组、调试模块、应用模块、第一引脚、第二引脚，寄存器组分别连接调试模块与应用模块；调试模块包括SWI模块、调试控制模块、TWI模块，调试控制模块分别连接SWI模块与TWI模块，SWI模块连接第一引脚，TWI模块连接第一引脚与第二引脚，应用模块分别连接第一引脚与第二引脚；寄存器组包括调试寄存器，调试寄存器包括调试输出信号选择比特位、TWI模块使能比特位、TWI模块调试输出使能比特位。本发明还提供基于芯片的芯片调试方法。本发明的芯片调试架构可以灵活切换应用模式与调试模式，具有功能丰富、逻辑严谨、易于扩展的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调试 功能 芯片 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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