[发明专利]一种散热性能良好的芯片封装结构在审
申请号: | 202211320446.3 | 申请日: | 2022-10-26 |
公开(公告)号: | CN115565971A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 崔煜;李星宇;李航;侯怀庆;余健;洪学天;王尧林;林和 | 申请(专利权)人: | 弘大芯源(深圳)半导体有限公司;晋芯电子制造(山西)有限公司;晋芯先进技术研究院(山西)有限公司 |
主分类号: | H01L23/373 | 分类号: | H01L23/373;H01L23/10 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 陈彦朝 |
地址: | 518128 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明的一种散热性能良好的芯片封装结构,包括:封装上板、芯片卡槽、封装下板、导热层,封装上板上设置有芯片卡槽,封装上板远离芯片卡槽一端与封装下板连接,封装下板上贯穿设置有导热层。封装下板靠近芯片卡槽的一侧设置有基板。封装上板上设置有凹槽,封装下板上设置有卡扣,卡扣卡装在凹槽内。封装上板和封装下板于卡扣处粘合连接。导热层采用氮化铝或金刚石等材料。导热层为网络状,网络状的截面为圆形或五角星形或斜线形或螺旋形。该结构通过封装下板中的氮化铝导热网络与基板直接接触,将芯片工作时产生的热量快速导出,以保证芯片工作在正常的温度下,确保芯片的工作效率。同时与氮化铝散热板相比氮化铝用料较少,成本更加低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 散热 性能 良好 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
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