[发明专利]通过原子层沉积在基材上形成过渡金属铌氮化物膜的方法和相关半导体装置结构在审

专利信息
申请号: 202210306863.6 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN114657535A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: J·P·陈;F·阿洛克塞 申请(专利权)人: ASMIP控股有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/455;H01L49/02;H01L29/49
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 乐洪咏
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了用于通过原子层沉积在基材上形成过渡金属铌氮化物膜的方法和相关的半导体装置结构。在一些实施方式中,方法可包括使基材与包含过渡金属前体的第一反应物接触,使基材与包含铌前体的第二反应物接触,+和使基材与包含氮前体的第三反应物接触。在一些实施方式中,相关的半导体装置结构可包含半导体主体和包含在半导体主体上沉积的过渡金属铌氮化物的电极。
搜索关键词: 通过 原子 沉积 基材 形成 过渡 金属 氮化物 方法 相关 半导体 装置 结构
【主权项】:
暂无信息
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