[发明专利]电容的制造方法和电容在审

专利信息
申请号: 202110881707.8 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN115843218A 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 吴锋 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H10N97/00 分类号: H10N97/00;H01L27/08
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供了一种电容的制造方法和电容,包括:提供衬底,所述衬底表面具有牺牲层,所述牺牲层存在倒梯形电容通孔,所述衬底包括接触垫,所述接触垫位于所述倒梯形电容通孔的下方;在所述牺牲层表面形成下电极,所述下电极覆盖所述牺牲层的倒梯形电容通孔表面;去除所述牺牲层,暴露出所述下电极;形成介电层,所述介电层形成于所述下电极表面并包覆所述下电极;形成上电极,所述上电极覆盖所述介电层。本发明采用柱状与圆筒状结合的结构,通过顶部的凹孔结构增大电极板接触面积,提高了电容的电容值。
搜索关键词: 电容 制造 方法
【主权项】:
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