[发明专利]一种磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110642910.X 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113416935B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 黄意雅;郭奇勋;滕蛟;徐秀兰;张辉;于广华 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/14;C23C14/58;H01F41/18;H01F41/22
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 528200 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法,属于发光材料制备及应用技术领域,包括如下步骤:S1.清洁并干燥基片后,将其置于磁控溅射镀膜仪的真空腔内;S2.室温下,利用磁控多靶共溅射法,将Mn源、Bi源和Te源共溅射在所述基片上制备非晶态的薄膜;S3.共溅射结束后,原位溅射生长一层Al膜作为保护层;S4.将所述非晶态的薄膜移入真空退火炉中,退火保温一段时间后制得。本发明的磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法,仅需在目标温度下进行一轮退火便可得到,工艺简单,可操作性更强;能够最大限度地节约时间成本,使效率最大化,适用于大批量生产;无需进行任何人工转移操作可避免污染、损坏;降低了设备成本,有利于工业化生产。
搜索关键词: 一种 磁性 拓扑 绝缘体 mnbi2te4 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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