[发明专利]存储器失效地址的输出方法及相关设备有效
| 申请号： | 202110303962.4 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN112927751B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 张朝锋;王春娟 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 吴莹 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本申请实施例通过提供一种存储器失效地址的输出方法及相关设备，用以解决现有的存储器失效地址输出过程效率较低的问题。上述方法包括：获取目标存储器的结构信息；根据测试数据记录失效信息，测试数据为测试设备对目标存储器测试后得到的失效地址，失效信息包含目标存储器中每个层级包含的失效地址数量；根据失效信息按照层级进行分析，确定目标存储器的失效类型，其中，失效类型包括第一失效类型及第二失效类型，第一失效类型用于表征目标存储器中失效单元按照整个层级失效，第二失效类型用于表征失效单元呈散点分布；根据预设输出策略，按照失效类型选取对应的输出方式进行输出，其中，预设输出策略中包含有每个失效类型对应的输出方式。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 失效 地址 输出 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
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