[发明专利]存储器失效地址的输出方法及相关设备

说明书

本申请实施例通过提供一种存储器失效地址的输出方法及相关设备，用以解决现有的存储器失效地址输出过程效率较低的问题。上述方法包括：获取目标存储器的结构信息；根据测试数据记录失效信息，测试数据为测试设备对目标存储器测试后得到的失效地址，失效信息包含目标存储器中每个层级包含的失效地址数量；根据失效信息按照层级进行分析，确定目标存储器的失效类型，其中，失效类型包括第一失效类型及第二失效类型，第一失效类型用于表征目标存储器中失效单元按照整个层级失效，第二失效类型用于表征失效单元呈散点分布；根据预设输出策略，按照失效类型选取对应的输出方式进行输出，其中，预设输出策略中包含有每个失效类型对应的输出方式。

技术领域

本发明实施例涉及芯片技术领域，具体地说，涉及一种存储器失效地址的输出方法及相关设备。

背景技术

随着技术的发展，芯片的稳定性和可靠性逐步为人们所重视，其中，为了检测芯片中存储器的失效情况，人们往往利用ATE(Automatic Test Equipment，自动化芯片测试设备，简称ATE)对芯片执行测试。一般来说，在检测后会将存储器中失效地址进行输出，以便用户后续的修复等操作。

目前，在利用ATE输出芯片中的检测出的失效地址时，常用的方法就是在测试的过程中将失效地址记录在ATE的失效地址存储区域中，然后通过读取失效地址存储区域的方式获取所有的失效地址并输出至用户。然而在实际应用中，现有的失效地址输出方式往往需要ATE设备遍历其失效地址存储区域中的所有地址，而从该失效地址存储区域读取失效地址的过程往往需要耗费较多的时间，同时，由于ATE设备对芯片测试时往往是几百上千个芯片同时进行的，也就是说，在某些特殊情况下，当多个芯片均存在地址失效的情况下，现有的失效地址输出方式实际上的输出时间是芯片的个数、单个芯片中全部地址的寻址时长以及每个地址的读取时间的乘积，这就导致目前的失效地址输出方式过于消耗时间，严重影响输出效率。

发明内容

在发明内容部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本申请实施例的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。

本申请实施例通过提供一种存储器失效地址的输出方法及相关设备，用以解决目前通过ATE设备输出失效地址过程中耗时过长，影响输出效率的问题。

为至少部分地解决上述问题，第一方面，本申请实施例提供了一种存储器失效地址的输出方法，包括：

获取目标存储器的结构信息，其中，所述目标存储器为经测试设备测试后的存储器，所述结构信息包括所述目标存储器的层级间对应关系以及每个层级包含的存储单元个数；

根据测试数据记录失效信息，其中，所述测试数据为所述测试设备对所述目标存储器测试后得到的失效地址，所述失效信息包含所述目标存储器中每个所述层级包含的失效地址数量；

根据所述失效信息按照所述层级进行分析，确定目标存储器的失效类型，其中，所述失效类型包括第一失效类型及第二失效类型，所述第一失效类型用于表征所述目标存储器中失效单元按照整个所述层级失效，所述第二失效类型用于表征所述失效单元呈散点分布；

根据预设输出策略，按照所述失效类型选取对应的输出方式进行输出，其中，所述预设输出策略中包含有每个失效类型对应的输出方式。

可选的，所述根据测试数据记录失效信息，包括：

根据所述测试数据分别确定每个所述层级的失效地址数量；

按照所述层级统计对应各个所述层级的失效地址数量，得到所述失效信息。

可选的，所述层级包括存储器、存储块、子块以及行列；