[发明专利]一种射频功放芯片测试系统在审
| 申请号： | 202110287044.7 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113064049A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 段源鸿;杨天应;刘石头 | 申请（专利权）人： | 深圳市时代速信科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郭浩辉;颜希文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频功放芯片测试系统，包括：大信号测试装置、小信号测试装置、开关装置、待测射频功放芯片以及信号分离装置；所述待测射频功放芯片的栅极与第一直流电源连接，且通过所述开关装置与所述大信号测试装置的信号输出端或所述小信号测试装置的信号输出端连接；所述待测射频功放芯片的漏极与第二直流电源以及所述信号分离装置的信号输入端连接；所述信号分离装置的第一信号输出端与所述大信号测试装置的信号输入端连接，所述信号分离装置的第二信号输出端与所述小信号测试装置的信号输入端连接；所述待测射频功放芯片的源极接地。通过实施本发明能够提高射频功放芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 功放 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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