[发明专利]一种半导体三极管生产用测试装置在审
| 申请号： | 202110285139.5 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113049400A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 赵久才 | 申请（专利权）人： | 赵久才 |
| 主分类号： | G01N3/18 | 分类号： | G01N3/18;G01N3/32;G01N3/02;F16F15/067;F16M3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 563100 贵州*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体三极管生产用测试装置，涉及半导体技术领域，包括主体机构、压力测试机构、低温测试机构以及高温测试机构。在压力测试机构中，电缸通过其活塞杆的移动，驱动压板向下压动，且压于三极管，可以测试封装后的三极管的抗压力性能；同时，在凸轮的运动下，能够驱动第一振动板上下运动，第一振动板的上下运动带动第一弹簧进行振动，第一弹簧振动下带动第二振动板振动，从而可以模拟封装后的三极管在不断振动的条件下，内部器件有无损坏；通过高温测试机构，可以测试三极管在高温状态下的耐受力；通过低温测试机构，可以测试三极管在低温状态下的耐受力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 三极管 生产 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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