[发明专利]一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法在审
| 申请号： | 202110283521.2 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113064060A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;吴艳平 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，具体的说是一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法。一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC‑cal载具板、Odd‑Even载具板。同现有技术相比，提供一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，利用自动测试机上的现有条件对其通道进行自校准，以提高自动测试机工作的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自动 测试 通道 信号 传输 时间 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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