[发明专利]存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110255006.3 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN113035880B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 姚兰 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11526 分类号: H01L27/11526;H01L27/11551;H01L27/11573;H01L27/11578
代理公司: 北京英思普睿知识产权代理有限公司 16018 代理人: 刘莹;聂国斌
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 公开了一种制备三维存储器的方法和一种三维存储器。所公开的制备三维存储器的方法包括:在半导体结构的一侧表面形成第一叠层结构,并在第一叠层结构中形成贯穿第一叠层结构的接触孔;在接触孔中设置第一填充物以形成接触块;在第一叠层结构的远离半导体结构的一侧表面形成第二叠层结构,并在第二叠层结构中形成贯穿第二叠层结构连接开口;以及在连接开口中设置第二填充物以形成连接层。其中,接触块的邻近半导体结构的一侧表面与半导体结构直接接触,并且接触块的远离半导体结构的一侧表面完全暴露在连接开口中并与设置在连接开口中的连接层直接接触。其中,接触块和连接层被形成为具有在远离半导体结构的方向上尺寸逐渐减小的剖面形状。
搜索关键词: 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
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