[发明专利]发光二极管测试电路、发光二极管测试方法及制造方法在审
| 申请号： | 202110163422.0 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN113257958A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 蔡佳珍;涂嘉良;李奇霖 | 申请（专利权）人： | 晶元光电股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L33/00 | 分类号： | H01L33/00;H01L21/66;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种发光二极管测试电路、发光二极管测试方法及制造方法，该制造方法包含提供基板，将基板的上表面分配为多个区域，其各设有发光二极管群组包含多个发光二极管，多个发光二极管群组包含第一发光二极管群组，多个发光二极管包含坏点发光二极管；形成测试电路于基板上，将多个发光二极管并联或串并联；用测试电路对第一发光二极管群组光电测试；记录坏点发光二极管的位置；提供终端载板或模块载板；及通过坏点发光二极管的位置，实施任一步骤：将坏点发光二极管自基板移除，再转移其他发光二极管至终端载板或模块载板；不转移坏点发光二极管，转移其他发光二极管至终端载板或模块载板；或转移发光二极管至终端载板或模块载板且修补坏点发光二极管。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 测试 电路 方法 制造 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶元光电股份有限公司，未经晶元光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110163422.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：端子台、电气设备及工具
- 下一篇：图形处理方法和系统
