[发明专利]提高测量精度、提高目标探测精度的方法、装置及设备在审
| 申请号： | 202110018187.8 | 申请日： | 2021-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN113009432A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 张艳群;朱砚 | 申请（专利权）人： | 加特兰微电子科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S7/41 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 柳虹 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区自由贸易试验区盛夏*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种提高测量精度、提高目标探测精度的方法、装置及设备，包括：获取对回波信号进行FFT处理得到的多个离散点，离散点的横坐标表征频率或者波达方向，纵坐标可以表征振幅或能量；从多个离散点中可以确定出具有最大振幅或者能量值的目标离散点，进而根据目标离散点确定出与该目标离散点分别左右相邻的第一相邻离散点以及第二相邻离散点，从而据此确定出测量值，其中，该测量值可以用于确定对象的移动速度、距离或波达方向。可见，在目标离散点的横坐标值与其中一个相邻离散点的横坐标值之间确定出测量值，相当于在目标离散点与其中一个相邻离散点之间增加一个采样点，从而在实际没有增加采样点的情况下可以达到增加采样点所能达到的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 测量 精度 目标 探测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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