[实用新型]用于半导体泵浦老化拷机测试的装置有效
申请号: | 202023052031.1 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN214622906U | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 费华;卢昆忠 | 申请(专利权)人: | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04;G01M11/02;H05K7/20;H01S5/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 吕伟盼 |
地址: | 430000 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型提供一种用于半导体泵浦老化拷机测试的装置,包括:支撑机构;至少一组测试机构,安装在所述支撑机构的一侧,并能够沿所述支撑机构的侧面上下滑动,以固定半导体泵浦。本实用新型提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置,可以同时对多个半导体泵浦进行老化拷机测试,提高了半导体泵浦的测试效率,为半导体泵浦批量化生产奠定了基础。同时,本实用新型提供的用于半导体泵浦老化拷机测试的装置利用测试机构自由下落来固定半导体泵浦,提高了半导体泵浦的安装效率。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 老化 测试 装置 | ||
【主权项】:
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