[实用新型]一种半导体测试支架有效
| 申请号： | 202021036170.2 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN213091803U | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 刘伟阳 | 申请（专利权）人： | 刘伟阳 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110014 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种半导体测试支架。所述半导体测试支架包括支架；四个定连块，四个所述定连块分别固定安装在支架的两侧，四个所述定连块呈矩形列阵分布；两个手调转杆，两个所述手调转杆分别转动安装在四个所述定连块之间；四个接应块，四个所述接应块分别固定安装在两个所述手调转杆上；压按块，所述压按块固定安装在接应块上；防护块，所述防护块固定安装在压按块的一侧上，所述防护块的一侧与支架的一侧相接触；两个装接块，两个所述装接块分别固定安装在对应的所述手调转杆上。本实用新型提供的半导体测试支架具有使用方便、便于调节、提高半导体与支架之间连接的稳定牢固性的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 支架 | ||
【主权项】：
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