[实用新型]一种半导体测试支架

权利要求书

1.一种半导体测试支架，其特征在于，包括：

支架；

四个定连块，四个所述定连块分别固定安装在支架的两侧，四个所述定连块呈矩形列阵分布；

两个手调转杆，两个所述手调转杆分别转动安装在四个所述定连块之间；

四个接应块，四个所述接应块分别固定安装在两个所述手调转杆上；

压按块，所述压按块固定安装在接应块上；

防护块，所述防护块固定安装在压按块的一侧上，所述防护块的一侧与支架的一侧相接触；

两个装接块，两个所述装接块分别固定安装在对应的所述手调转杆上；

焊接定块，所述焊接定块固定安装在装接块的一侧；

弧形槽，所述弧形槽开设在焊接定块上；

调节杆，所述调节杆转动安装在支架上，所述调节杆的一端通过弧形槽延伸至焊接块外；

两个挡隔块，两个所述挡隔块均固定安装在手调转杆上；

四个限位套块，四个所述限位套块分别固定套设在两个所述调节杆上。

2.根据权利要求1所述的半导体测试支架，其特征在于，两个所述手调转杆的顶端和底端均固定安装有圆状块，四个所述圆状块呈矩形列阵分布。

3.根据权利要求1所述的半导体测试支架，其特征在于，所述调节杆远离两个挡隔块的一端转动安装有圆形块，所述圆形块与支架的一侧固定连接。

4.根据权利要求1所述的半导体测试支架，其特征在于，四个所述定连块上均开设有经行孔，四个所述经行孔的内壁上均固定安装有第一转接轴承，四个所述第一转接轴承分别固定套设在两个所述手调转杆上。

5.根据权利要求1所述的半导体测试支架，其特征在于，所述支架上开设有两个装连槽，两个所述装连槽的内壁上均固定安装有第二转接轴承，两个所述第二转接轴承的内圈分别固定套设在对应的所述调节杆上。

6.根据权利要求1所述的半导体测试支架，其特征在于，所述防护块为橡胶材质制成，所述手调转杆、装接块和焊接定块均为不锈钢材质制成。