[发明专利]超导纳米线单光子检测器以及获得这种检测器的方法在审

专利信息
申请号: 202010973643.X 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN112531101A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 迪米特里·K·埃费托夫;卢晓波;阿米尔·M·阿里;保罗·塞弗特;若泽·杜兰 申请(专利权)人: 光子科学研究所基金会
主分类号: H01L39/12 分类号: H01L39/12;H01L39/10;H01L39/24;H01L31/101;G01J1/44
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 王晖;曹桓
地址: 西班牙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种超导纳米线单光子检测器,该检测器包括超导纳米线,该超导纳米线被配置和布置成用于光子在该超导纳米线的区域上的入射,并且用于在该区域上形成局部非超导区域或热点。该超导纳米线由具有高于77K的超导临界温度的高Tc铜酸盐超导体材料制成。本发明还涉及获得本发明的超导纳米线单光子检测器的方法。
搜索关键词: 导纳 米线 光子 检测器 以及 获得 这种 方法
【主权项】:
暂无信息
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