[发明专利]外延结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202010717160.3 申请日: 2020-07-23
公开(公告)号: CN111933762B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 范伟宏;邬元杰;李东昇;蒋敏;张成军 申请(专利权)人: 厦门士兰明镓化合物半导体有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/24;H01L33/14;H01L33/32
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;李向英
地址: 361012 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 本申请公开了一种外延结构及其制造方法,衬底;电子供应层,位于衬底上;多量子阱层,位于电子供应层上;多个V型凹陷,自多量子阱层的表面延伸至多量子阱层中;以及空穴供应层,填充多个V型凹陷,并在多量子阱层上方提供平整表面,其中,至少一个V型凹陷的开口尺寸大于等于空穴供应层的厚度的四分之三。该外延结构通过超薄的空穴供应层填充大开口尺寸的V型凹陷,并在多量子阱层上方提供平整表面,从而在保证高空穴注入效率的前提下降低空穴供应层对光的吸收,从而提高了发光元件的发光效率。
搜索关键词: 外延 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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