[发明专利]一种探测光电材料微区光电性能的方法在审

专利信息
申请号: 202010608309.4 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111665373A 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 邹星礼;唐蔚;庞忠亚;李想;汪淑娟;卢明辉;许茜;鲁雄刚 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01Q30/02 分类号: G01Q30/02;G01Q30/20;G01N27/26;G01N27/30
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 郑立
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种探测光电材料微区光电性能的方法,涉及光电化学技术领域。本发明以扫描电化学显微镜装置为基础,通过采用光纤微探针和微电极探针,在光电化学池中通过精确扫描样品微区(包括晶粒和晶界等),从而获得材料微区光电化学性能。本发明的一种探测光电材料微区光电性能的方法可以测量出材料微区的不同表面微观形貌对应的光电性能差异,以及探测晶界及不同晶粒取向的光电性能分布,解决了传统方法上只能测量材料整体宏观光电性质的局限,对光电转化机制研究和工艺性能改进具有重要的指导意义。
搜索关键词: 一种 探测 光电 材料 性能 方法
【主权项】:
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  • 2021-06-11 - 2021-10-26 - G01Q30/02
  • 本发明公开了一种钨灯丝扫描电子显微镜的检测方法及装置,包括箱体、气密性检测机构、强度检测机构、夹持机构和旋转机构,所述气密性检测机构设置于箱体的顶部,所述强度检测机构设置于箱体内腔的下端,旋转机构设置于箱体的底部。本发明通过气泵和输气管构成了气密性检测机构,用于对扫描电镜组件的气密性进行检测的效果,通过气缸、固定杆、限位环、固定架、固定环和敲击锤构成了强度检测机构,用于对扫描电镜组件的气密性和强度进行检测的效果,实现了对扫描电镜组件进行气密性和强度检测的目的,提高了装置的创造性和使用性,增强了使用者的使用体验,解决了目前还未出现对扫描电镜组件进行气密性和强度检测装置的问题。
  • 一种扫描电子显微镜成像缺陷判定方法-202010169099.3
  • 李万国;杜畅 - 北京航空航天大学
  • 2020-03-12 - 2021-08-31 - G01Q30/02
  • 本发明提供一种扫描电子显微镜成像缺陷判定方法,用于对受机械振动影响的扫描电子显微图像成像质量进行评价,属于电子显微领域。本发明通过以下技术方案实现:(1)扫描电子显微镜成像缺陷的定义;(2)选取扫描电子显微镜在机械振动方面的关键部位;(3)利用所选取关键部位的机械振动测量数据进行电子束参数的传递计算,预测电子束在被观察样品表面的实际照射位置相对理想照射位置的偏离量;(4)绘制照射位置对照图将电子束照射位置偏离量的预测结果可视化;(5)根据照射位置对照图判定成像缺陷的性质和程度。
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