[发明专利]一种用于高分辨率测量的激光测距装置及方法有效
| 申请号： | 202010433495.2 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111538027B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 许新科;孔明;徐靖翔;赵军;王道档;刘璐;郭天太;刘维 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01S17/34 | 分类号： | G01S17/34 |
| 代理公司： | 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 | 代理人： | 唐灵;赵杰香 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于高分辨率测量的激光测距装置。可调谐激光器发出的激光信号经过分束器后被分为两路进入主光路和辅助光路，主光路中的信号通过变焦透镜照射目标后原路返回至光路，信号经过耦合器耦合后被探测器采集。进入辅助光路中的信号同样被探测器采集，两部分的信号存在光程差因此会产生干涉，数据采集卡将探测器中的信号以正弦形式输出。通过ESPRIT算法对该信号数据进行计算，实现被测目标的高分辨率测量。本发明解决现有激光测距时难以实现的高分辨率测量的问题。有益效果：利用ESPRIT算法对目标信号的数据进行计算，提高了该装置测量的分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 高分辨率 测量 激光 测距 装置 方法 | ||
【主权项】：
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