[发明专利]一种强辐射场的辐照剂量率测量系统和方法在审
| 申请号： | 202010344042.2 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN111366967A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 徐守龙;韩永超;邹树梁;吴其反;邓骞;徐玲 | 申请（专利权）人： | 南华大学 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 421001 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种强辐射场的辐照剂量率测量系统，包括设于辐射区域内，用于接收放射源的辐照，并输出相应的像素特征信号的CMOS传感器；用于设置CMOS传感器，并将像素特征信号转换输出的线路板；设于非辐射区域内，和线路板通过线缆连接，用于通过线路板获得像素特征信号，并根据像素信号和辐照剂量率之间的关联关系获得辐照剂量率的处理器。本申请中利用CMOS传感器接收辐照时输出像素特征信号和辐照剂量率呈正相关这一特性，实现辐照剂量率的测量；而CMOS传感器和处理器之间采用普通线缆即可实现信号的传输，降低了强辐射场的剂量率测量的设备成本。本申请还提供了一种强辐射场的辐照剂量率测量方法，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 辐照 剂量率 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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- 曹培炎;刘雨润 - 深圳帧观德芯科技有限公司
- 2016-07-05 - 2023-06-20 - G01T1/24
- 本文公开X射线检测器(100)，其包括：X射线吸收层(110)，其配置成吸收X射线光子；电子层(120)，其包括电子系统(121)，该电子系统配置成处理或解释X射线吸收层(110)上入射的X射线光子产生的信号；以及X射线吸收层(110)中或电子层(120)中的温度驱动器(5012，5022)。
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