[发明专利]一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪在审
| 申请号： | 202010186827.1 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111278205A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 张森;兰涛;庄革;刘万东 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 邓治平 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪，由1550nm和1310nm激光器、2×2耦合器、3×3耦合器、准直器、衰减器、光电探测器、波分复用器、补偿光纤、PZT位移器和采集控制模块组成。本发明双色激光光纤干涉仪克服了传统单色光纤干涉仪在等离子体密度测量领域只能短时间测量缺点，测量出环境带来的相位漂移并且使用PZT位移器进行补偿，测量时间从一般光纤干涉仪的1毫秒内扩展到10秒以上，整个干涉仪构成简便，光路部分为全光纤结构，易安装且成本可控。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 长时间 测量 等离子体 密度 激光 光纤 干涉仪 | ||
【主权项】：
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