[发明专利]阻变存储器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202010145159.8 申请日: 2020-03-04
公开(公告)号: CN111293220B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 黄鹏;冯玉林;田明;刘力锋;刘晓彦;康晋锋 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种阻变存储器及其制作方法,其中阻变存储器包括:衬底;依次位于所述衬底之上的:第一电极、阻变介质层、阻挡层兼隧穿层以及第二电极;其中,所述阻挡层兼隧穿层包括多层二维材料,所述二维材料为如下材料的一种:HBN、MoSe2、MoTe2、WS2、WSe2或WTe2。将上述多层二维材料插入第二电极和阻变介质层之间,置位过程中,可有效阻挡和限制氧离子扩散进入第二电极并与其发生氧化反应,减少氧离子的消耗,同时利用二维材料隧穿作用提高低阻态电阻。在复位过程中,不需要第二电极作为储氧层来提供氧离子,在不施加大电压产生大电流的情况下,会有足够多的氧离子参与氧空位的复合,可以实现完全复位。整体提升了器件的循环特性并且降低了编程能耗。
搜索关键词: 存储器 及其 制作方法
【主权项】:
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