[发明专利]碳同位素分析设备以及碳同位素分析方法在审

专利信息
申请号: 201980009399.0 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN111630370A 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 佐藤淳史;井口哲夫;富田英生;西泽典彦 申请(专利权)人: 积水医疗株式会社;国立大学法人东海国立大学机构
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/39;G02F1/37;H01S3/00;H01S3/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王蓉
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了:一种碳同位素分析设备,在该碳同位素分析设备中被送入光学谐振器的气体中的二氧化碳同位素的分压高,并且该碳同位素分析设备允许高灵敏度性能和高准确度分析;以及一种使用该分析设备的分析方法。碳同位素分析设备包括:二氧化碳同位素生成设备,设置有从碳同位素生成包含二氧化碳同位素的气体的燃烧单元以及二氧化碳同位素提纯单元;光谱设备,设置有具有一对镜的光学谐振器以及检测来自光学谐振器的传输光的强度的光检测器;二氧化碳同位素捕集器,设置在二氧化碳同位素生成设备与光谱设备之间,并且二氧化碳同位素捕集器设置有用于使二氧化碳同位素冷凝的冷却设备;以及光发射设备。
搜索关键词: 同位素 分析 设备 以及 方法
【主权项】:
暂无信息
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  • 法布里斯·马舍尔·瑟纪·鲍内克斯;安东尼奥·考提那;加布里埃尔·芬纳迪 - 量子电动力学环境系统有限公司
  • 2019-06-26 - 2021-02-02 - G01N21/3504
  • 本发明涉及一种用于分析气体样品和/或用于测量物类浓度、数密度或柱密度的便携式光谱装置。该装置包括:具有待被分析的气体样品的测量室(2);具有用于至少在某些区域沿穿过测量室(2)的光路发射激光束的至少一个激光二极管的光源(1);用于调制由光源(1)发射的光束的波长的调制装置(8);以及具有第一光学检测器(3a)和至少一个第二光学检测器(3b、3c)的光学检测器装置。第一光学检测器(3a)和至少一个第二光学检测器(3b、3c)相对于激光二极管布置成使得在由激光二极管发射的光已经穿过测量室(2)m次后利用第一光学检测器(3a)检测由激光二极管发射的光的至少一部分,并且在由激光二极管发射的光已经穿过测量室(2)n次后利用至少一个第二光学检测器(3b、3c)检测由激光二极管发射的光的至少一部分,其中nm适用。光源(1)的至少一个激光二极管是低功率半导体激光二极管,特别是垂直腔面发射激光二极管。便携式光谱装置还包括用于评估由第一光学检测器(3a)输出的信号特征和/或由至少一个第二光学检测器(3b、3c)输出的信号特征的评估单元(10)。
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