[发明专利]分析装置、分析系统以及分析方法在审

专利信息
申请号: 201910965014.X 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN111046718A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 中谷嵩之 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06N3/08
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种分析装置、分析系统以及分析方法。事例数据集存储部(2)包含多个事例数据集,该事例数据集包含针对在同一试样和同一测定条件中在多个时间点测定出的测定数据的表示相对于初始状态的测定数据的变化量的差分数据。经年劣化估计部(4)使用多个事例数据集,基于表示由测定装置(10)测定出的比第一经过时间更早的多个时间点的测定数据相对于初始状态的测定数据的变化量的差分数据,来输出表示第一经过时间以后的测定数据相对于初始状态的测定数据的变化量的估计值的差分数据。经年劣化校正部(5)利用输出的差分数据来校正第一经过时间以后的测定数据。
搜索关键词: 分析 装置 系统 以及 方法
【主权项】:
暂无信息
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