[发明专利]一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法有效
| 申请号： | 201910867000.4 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110530912B | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 刘建红;胡晓春;林哲琼 | 申请（专利权）人： | 岛津企业管理（中国）有限公司;国家珠宝检测中心（广东）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G16C20/20 |
| 代理公司： | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人： | 吴静芝 |
| 地址： | 200131 上海市浦东新区自由贸易*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法，其分析的待测物由基体和包覆于基体外的镀层组成，所述基体的主要成分为贵金属；包括以下步骤：S1、利用X射线荧光光谱实测待测物基体组成元素的荧光测定强度I |
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| 搜索关键词： | 一种 镀层 贵金属 成分 射线 荧光 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法，其分析的待测物由基体和包覆于基体外的镀层组成，所述基体的主要成分为贵金属；其特征在于：包括以下步骤：/nS1、利用X射线荧光光谱实测待测物基体组成元素的荧光测定强度I3，根据测得的元素信息设定基体组成元素的初始含量Wn；/nS2、根据基体组成元素的初始含量Wn，基于有镀层测试条件计算基体组成元素的荧光理论强度I4，所述有镀层测试条件为引入镀层密度、镀层厚度和镀层质量来修正镀层组成元素对基体组成元素的吸收影响；/nS3、根据基体组成元素的荧光理论强度I4，采用基本参数法计算出基体组成元素的实际含量。/n
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