[发明专利]X80管线钢真空渣化学成分的X射线荧光分析方法在审

专利信息
申请号: 201910907047.9 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN110530913A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 刘步婷;刘明辉;齐郁;杨国义;王鹏;刘俊 申请(专利权)人: 武汉钢铁有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2204
代理公司: 42104 武汉开元知识产权代理有限公司 代理人: 赵龙骧<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 430083 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种X80管线钢真空渣化学成分的X射线荧光分析方法,属于化学分析技术领域。该分析方法包括建立真空渣标样,并采用本发明设计的固定托盘结合具体X射线荧光仪分析仪器建立标准分析曲线,为弥补该标准分析曲线发生漂移校正的缺陷,本发明还选择自制熔片样和抛光样进行校正及确认。最终保证了待测真空渣各化学成分测量的准确性。
搜索关键词: 标准分析 校正 漂移 化学分析技术 成分测量 分析仪器 固定托盘 渣化学 抛光 标样 熔片 自制 分析 保证
【主权项】:
1.一种X80管线钢真空渣化学成分的X射线荧光分析方法,它包括如下步骤:/n1)取真空渣破碎、过筛得粒度≤0.125mm的粉末样;/n2)取所述粉末样采用化学法测定,得到所述真空渣中各化学成分含量作为以下进行实际分析实验的参考值;/n3)取5.5~7.5g粉末样制成用于作为真空渣标样的压片样,取该压片样置于试样固定托盘内,并将所述试样固定托盘定位装配于X射线荧光仪分析室内,测量并建立真空渣标样的标准分析曲线;/n其中,所述试样固定托盘包括底座及与底座相连的导向筒,所述导向筒的顶端向外翻折形成宽度为4.5~5.5mm的翻边,所述底座中心点位置底端还开设有用于与X射线荧光仪分析室内的固定支架进行定位安装的圆形盲孔;所述圆形盲孔的孔径为12~16mm,所述底座的外径为49~51mm,所述导向筒的内径为40~45mm,所述导向筒的深度为2~6mm;/n4)需要测定待测真空渣中各化学成分精确含量时,首先采用熔片样及抛光样对所述步骤3)的标准分析曲线进行漂移校正,继续采用熔片样及抛光样对漂移校正后曲线进行精度确认;/n对待测真空渣采用所述步骤3)的压片及测量方式,得到待测真空渣中各化学成分的精确含量。/n
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