[发明专利]一种基于几何约束的自适应结构光三维测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910571144.5 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN110345882A 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 林斌;李雯 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/521;G06T7/80
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 李亦慈;唐银益
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了是一种基于几何约束的自适应结构光三维测量系统及方法,系统包括投影仪和相机,投影仪与相机投射的方向呈θ角度,投影仪与相机摆放位置与所测物体深度范围有关,利用单周期投影条纹不需要解包裹的特点,根据物体大致的高度信息确定虚拟平面,实现虚拟平面的自适应测量,获得虚拟平面之后,利用结构光测量系统的几何约束创建最小相位图,参考最小相位图逐像素展开包裹相位,实现相位解包裹,本发明通过参考理想的绝对相位图来确定条纹级数,本质上不需参考相邻像素或任何滤波器的像素信息,因此鲁棒性更好,相比之下,传统的时间相位展开方法通过参考噪声捕获其他附加信息来确定条纹级数。
搜索关键词: 投影仪 几何约束 虚拟平面 三维测量系统 相机 条纹级数 最小相位 结构光 自适应 参考 滤波器 结构光测量系统 参考相邻像素 相位解包裹 自适应测量 摆放位置 包裹相位 附加信息 高度信息 绝对相位 时间相位 投影条纹 像素信息 传统的 单周期 鲁棒性 投射 像素 捕获 噪声 创建
【主权项】:
1.一种基于几何约束的自适应结构光三维测量系统,其特征在于,所述的系统包括投影仪和相机,所述的投影仪与相机投射的方向呈θ角度,投影仪与相机摆放位置与所测物体深度范围有关。
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