[发明专利]制造磁隧道结装置的方法在审

专利信息
申请号: 201910404401.6 申请日: 2019-05-16
公开(公告)号: CN110504356A 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 金晥均;卢恩仙;李俊明;林佑昶;郑峻昊 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 刘灿强;尹淑梅<国际申请>=<国际公布>
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种制造磁隧道结(MTJ)装置的方法。所述方法包括以下步骤:在基底上方形成自由磁性层、在自由磁性层上方形成金属层以及通过在250K或更低的温度下将金属层暴露于氧化气体来对金属层进行氧化。
搜索关键词: 金属层 自由磁性层 磁隧道结 氧化气体 基底 暴露 制造
【主权项】:
1.一种制造磁隧道结装置的方法,所述方法包括以下步骤:/n在基底上方形成自由磁性层;/n在自由磁性层上方形成金属层;以及/n通过在250K或更低的温度下将金属层暴露于氧化气体来对金属层进行氧化。/n
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