专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]磁性穿隧接面结构与其制造方法-CN201910880175.9有效
  • 杨毅;沈冬娜;王郁仁 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-09-18 - 2023-09-29 - H10N50/01
  • 一导电通路层沉积于一底电极上,接着导电通路层被图案化并修整以在底电极上形成次20nm的一导电通路。导电通路以一第一介电层封装,第一介电层被平坦化以暴露导电通路的一顶表面。一磁性穿隧接面堆叠沉积于封装的导电通路上,其中磁性穿隧接面堆叠包括至少一固定层(pinned layer)、一阻挡层及一自由层。一顶电极层沉积于磁性穿隧接面堆叠上,且被图案化并修整以形成一次30nm的硬掩模。将磁性穿隧接面堆叠使用硬掩模蚀刻以形成一磁性穿隧接面装置并将磁性穿隧接面堆叠过蚀刻至第一介电层中,但不蚀刻至底电极中,其中金属再沉积材料形成在磁性穿隧接面装置下的第一介电层的侧壁上,而不形成在磁性穿隧接面装置的阻挡层的侧壁上。
  • 磁性穿隧接面结构与其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其形成方法-CN202310534771.8在审
  • 王郁仁;黄胜煌;庄学理;王宏烵;王清煌;黄国峰 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2023-05-12 - 2023-09-01 - H10B61/00
  • 根据本发明的实施例的半导体器件包括位于第一介电层中的第一导电部件和第二导电部件、位于第一介电层上方的缓冲层、位于缓冲层上方的第二介电层、延伸穿过缓冲层和第二介电层的第一底部通孔、延伸穿过缓冲层和第二介电层的第二底部通孔、设置在第一底部通孔上的第一底部电极、设置在第二底部通孔上的第二底部电极、位于第一底部电极上方的第一磁隧道结(MTJ)堆叠件、以及位于第二底部电极上方的第二MTJ堆叠件。第一MTJ堆叠件和第二MTJ堆叠件具有相同的厚度。第一MTJ堆叠件具有第一宽度并且第二MTJ堆叠件具有大于第一宽度的第二宽度。本发明的实施例还提供了形成半导体器件的方法。
  • 半导体器件及其形成方法
  • [发明专利]双磁穿隧接面与其形成方法-CN201910882982.4有效
  • 维格纳许·桑达;王郁仁;路克·汤马斯;真杰诺;沙希·帕特尔;童儒颖 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-09-18 - 2023-05-30 - H10N50/10
  • 本公开涉及一种双磁穿隧接面与其形成方法,其中第一穿隧阻障层(TB1)具有比上覆的第二穿隧阻障层(TB2)的电阻与表面积乘积RA2大致上较低的电阻与表面积乘积RA1,以提供可接受的净磁阻比(DRR)。此外,第一固定层(PL1)的磁化方向与第二固定层(PL2)的磁化方向反平行排列,以能够获得比平行排列时更低的临界切换电流。在第二固定层上形成具有RACAP的氧化物覆盖层,以提供更高的第二固定层稳定性。当第一穿隧阻障层与氧化物覆盖层具有比第二穿隧阻障层更小的厚度和更低的氧化态中的一者或两者,第一穿隧阻障层(TB1)与氧化物覆盖层包括金属氧化物或金属氮氧化物基质中的导电(金属)通道,或者包括掺杂的金属氧化物或掺杂的金属氮氧化物层时,实现条件RA1RA2和RACAPRA2
  • 双磁穿隧接面与其形成方法
  • [发明专利]磁性穿隧接面结构及其制造方法-CN201910795362.7有效
  • 杨毅;沈冬娜;桑达维格纳许;王郁仁 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-08-27 - 2023-05-23 - H10N50/10
  • 描述蚀刻磁性穿隧接面结构的方法。磁性穿隧接面堆叠物沉积于底电极上,其中磁性穿隧接面堆叠物包括至少固定层、在固定层上的阻挡层及在阻挡层上的自由层。顶电极沉积于磁性穿隧接面堆叠物上,硬掩膜沉积于顶电极上,蚀刻顶电极和硬掩膜。之后,蚀刻未被硬掩膜覆盖的磁性穿隧接面堆叠物,此蚀刻停止于固定层上或固定层中。之后,封装层沉积于部分蚀刻的磁性穿隧接面堆叠物上方,且蚀刻封装层的水平表面,以在磁性穿隧接面堆叠物的侧壁上保留自对准硬掩膜。最后,蚀刻未被硬掩膜和自对准硬掩膜覆盖的磁性穿隧接面堆叠物,以完成磁性穿隧接面结构。
  • 磁性穿隧接面结构及其制造方法
  • [发明专利]磁通道接面结构与其制造方法-CN201910983590.7有效
  • 杨毅;沈冬娜;王郁仁 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-10-16 - 2023-04-28 - H10N50/01
  • 本公开涉及磁通道接面结构与其制造方法。将磁通道接面(magnetic tunneling junction,MTJ)堆叠沉积在底电极上。将顶电极层和硬遮罩沉积在MTJ堆叠上。蚀刻未被硬遮罩覆盖的顶电极层。之后,将第一间隔物层沉积在图案化的顶电极层和硬遮罩上。第一间隔物层在水平表面上被蚀去,留下在图案化的顶电极层的侧壁上的第一间隔物。蚀刻未被硬遮罩及第一间隔物覆盖的自由层。之后,在图案化的先前层上沉积后续间隔物层的步骤,在水平表面上蚀去后续间隔物层,在图案化的先前层的侧壁上留下后续间隔物层,之后重复蚀刻未被硬遮罩及后续间隔物覆盖的继续层(next layer),直到已经蚀刻完MTJ堆叠的所有层以完成MTJ结构。
  • 通道结构与其制造方法
  • [发明专利]磁性穿隧接面结构及其制造方法-CN201910795813.7有效
  • 杨毅;沈冬娜;王郁仁 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-08-27 - 2023-04-25 - H10N50/01
  • 本公开涉及一种磁性穿隧接面结构及其制造方法,连接金属导通孔堆叠物通过重复沉积导通孔层、将导通孔层图案化及修整以形成小于30nm的导通孔、以介电层封装导通孔及暴露出导通孔的顶表面的步骤形成于底电极上。磁性穿隧接面堆叠物沉积于封装的导通孔堆叠物上,顶电极沉积于磁性穿隧接面堆叠物上,并将顶电极图案化及修整以形成小于60nm的硬遮罩。使用硬遮罩蚀刻磁性穿隧接面堆叠物以形成磁性穿隧接面元件,并过蚀刻磁性穿隧接面堆叠物以蚀刻介电层而不蚀刻底电极,其中任何金属再沉积材料形成于磁性穿隧接面元件下方的介电层的侧壁上,而不形成于磁性穿隧接面元件的阻障层的侧壁上。
  • 磁性穿隧接面结构及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置的制造方法-CN202210223456.9在审
  • 杨芷欣;陈殿豪;陈燕铭;王郁仁;黄镇球 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-03-09 - 2022-08-19 - H01L43/08
  • 一种包含磁性随机存取存储器(MRAM)单元的半导体装置的制造方法。在上述半导体装置的制造方法中,由导电材料所制成的第一薄层被形成在基板上方。用于磁穿隧接面(MTJ)堆叠的第二薄层被形成在第一薄层上方。第三薄层形成在第二薄层上方。通过图案化第三薄层形成第一硬遮罩图案。通过使用第一硬遮罩图案作为蚀刻遮罩的蚀刻操作图案化第二薄层以形成MTJ堆叠。蚀刻操作停止于第一薄层。侧壁绝缘层被形成在MTJ堆叠上方。在形成侧壁绝缘层后,通过图案化第一薄层形成底部电极,以形成包含底部电极、MTJ堆叠以及作为上电极的第一硬遮罩图案的MRAM单元。
  • 半导体装置制造方法
  • [发明专利]集成电路-CN201911376500.4在审
  • 陈其懋;王郁仁;陈传鑫;林仁兴;陈望矜 - 智原科技股份有限公司
  • 2019-12-27 - 2021-02-26 - H01L27/02
  • 本发明公开一种集成电路,包含平行第一轴向的第一电力轨线与第二电力轨线;第一电连接元件,具有第一连接部与第二连接部,第二连接部耦接第一电力轨线;第二电连接元件,具有第三连接部与第四连接部,其中第四连接部耦接第二电力轨线,第二连接部与第四连接部在第二轴向上重叠;第一电力导线与第二电力导线,其中第二连接部与第四连接部位于第一电力导线与第二电力导线之间,第一电力导线及第二电力导线分别耦接第一连接部及第三连接部,第一电力导线与第二电力导线分别经由第一电连接元件与第二电连接元件供电至第一电力轨线与第二电力轨线。
  • 集成电路

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