[发明专利]一种薄膜厚度检测方法有效
申请号: | 201811103276.7 | 申请日: | 2018-09-20 |
公开(公告)号: | CN109084694B | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 王顺 | 申请(专利权)人: | 青岛华泰瑞特机电科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266000 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明属于薄膜测量技术领域,具体的说是一种薄膜厚度检测方法,该方法包括以下步骤:S1,将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上;S2,启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测;S3,S2中检测完成后,对检测后的薄膜进行加热,并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测,当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时,再次对薄膜的厚度进行检测;S4,改变薄膜的温度,测量多组薄膜在不同温度下的厚度。本方法通过采用薄膜厚度检测仪实现对薄膜厚度的测量,且通过改变薄膜周围整体的温度,实现在不同温度下对薄膜厚度的测量,从而便于研究薄膜受温度的影响规律。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 厚度 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜厚度检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S1,将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上;S2,启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测;S3,S2中检测完成后,对检测后的薄膜进行加热,并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测,当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时,再次对薄膜的厚度进行检测;S4,改变薄膜的温度,测量多组薄膜在不同温度下的厚度;本方法中采用的薄膜厚度检测仪包括机罩(1),用于支撑所述机罩(1)的所述底座(17)顶部设置两条第一滑槽(14),两条所述第一滑槽(14)之间设置两条第二滑槽(16),所述第一滑槽(14)内部安装有固定薄膜的第一固定机构(13)和第二固定机构(15),所述第一固定机构(13)与所述第二固定机构(15)之间通过螺丝杆(32)连接,且所述螺丝杆(32)一端安装从动轮(33),所述从动轮(33)与主动轮(34)啮合,所述主动轮(34)安装在电动机(35)的输出端;所述底座(17)一侧设置机罩(1),所述机罩(1)一侧安装有用于保护内部结构的第一防护板(3),所述机罩(1)另一侧安装有用于保护内部结构的第二防护板(4),所述第二防护板(4)侧壁安装铭牌(5),所述机罩(1)侧壁设置显示屏(2),所述显示屏(2)下方设置调节按钮(9),所述调节按钮(9)一侧设置功能按钮(8),所述机罩(1)底部安装伸缩杆(10),所述伸缩杆(10)一端安装压盘(11),所述压盘(11)底部与底座(17)顶部均设置激光传感器(12)。
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