[发明专利]一种NVM芯片可靠性测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201810599812.0 | 申请日： | 2018-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN110600071B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 孙云龙;张学磊 | 申请（专利权）人： | 华大恒芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人： | 黎昌莉 |
| 地址： | 610212 四川省成都市自由贸易*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种NVM芯片可靠性测试系统，其包括用于控制和产生测试激励信号的测试主机，测试主机包括相互通信的上位机和测试机，其中上位机发送测试指令及测试向量给测试机，并且测试机分析所接收的测试指令和测试向量以生成测试激励信号；以及与测试主机通信的测试板，包括驱动板和芯片基座板，其中驱动板对测试主机生成的测试激励信号进行处理，并把经处理的测试激励信号传输给芯片基座板。本申请还涉及使用如上所述的NVM芯片可靠性测试系统的NVM芯片可靠性测试方法。本发明的有益效果在于采用分级设计，显著减少了多芯片同测时需要的测试主机资源；测试模块在不同的项目中可以重复使用；以及测试方法最大限度的节约了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nvm 芯片 可靠性 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种NVM芯片可靠性测试系统，所述测试系统包括：/n用于控制和产生测试激励信号的测试主机，所述测试主机包括相互通信的上位机和测试机，其中上位机发送测试指令及测试向量给测试机，并且测试机分析所接收的测试指令和测试向量以生成测试激励信号；以及/n与测试主机通信的测试板，包括驱动板和芯片基座板，其中驱动板对测试主机生成的测试激励信号进行处理，并把经处理的测试激励信号传输给芯片基座板。/n
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