[发明专利]利用原位生长图形化势垒层制备的HEMT及其方法有效
申请号: | 201810337511.0 | 申请日: | 2018-04-16 |
公开(公告)号: | CN108735601B | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 房育涛;陈兴;叶昌隆;张恺玄;蔡文必 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/06;H01L29/778 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭;陈淑娴 |
地址: | 361000 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用原位生长图形化势垒层制备的HEMT及其方法,在生长势垒层时,利用高温条件下关断MO源时势垒层会从螺位错终止处开始分解,通过重复外延生长和高温分解过程可以获得带有随机分布开孔的图形化势垒子层,避免凹槽图形化势垒制备复杂性和重复性问题,简化器件制作工艺。得到的HEMT栅对二维电子气的控制能力强,同时部分保持栅极下的导电能力,减小源漏电极的接触电阻,提高器件高频特性。 | ||
搜索关键词: | 利用 原位 生长 图形 化势垒层 制备 hemt 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.利用原位生长图形化势垒层制备HEMT的方法,其特征在于包括以下步骤:1)于一衬底上形成缓冲层;2)于缓冲层上形成沟道层;3)于沟道层上形成势垒层,所述沟道层和势垒层是三五族化合物异质结材料系统;所述势垒层包括固定组分势垒子层和图形化势垒子层,首先控制三族生长源和五族生长源气体通入流量恒定,生长所述固定组分势垒子层;然后控制五族生长源气体保持通入状态,周期性的通入和关断三族生长源气体生长所述图形化势垒子层;4)于势垒层上形成源极和漏极;5)于源极和漏极之间的势垒层上形成电介质层;6)于电介质层上形成栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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