[发明专利]一种功率元件的保护器件及其制作方法有效
申请号: | 201810257531.7 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN108417534B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 于洋 | 申请(专利权)人: | 南京恒众信息科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82;H01L27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211200 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种功率元件的保护器件及其制作方法,涉及半导体器件技术领域,首先,提供N型衬底,在N型衬底内形成第一氧化硅层,刻蚀去除第一氧化硅层的底部;其次,依次形成第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层,在第一P型外延层的下表面形成氧化硅底层;再次,在第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层内凹槽的侧壁形成第二氧化硅层;然后,形成第三氧化硅层及金属层,形成第一电极和第二电极;最后,表面形成氧化硅钝化层。该技术方案通过采用埋层工艺实现了TVS的集成,提高了器件抗浪涌能力,减小了器件的面积,实现了高端IC的小尺寸封装,缓解了现有技术存在的抗浪涌能力低、器件面积大的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 元件 保护 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种功率元件的保护器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:提供N型衬底,在所述N型衬底上通过干法刻蚀形成沟槽,在所述沟槽的侧壁形成第一氧化硅层;步骤二:刻蚀去除所述第一氧化硅层的底部;步骤三:在所述沟槽内由下到上依次形成第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层;步骤四:由N型衬底的背面进行氧注入,在所述第一P型外延层的下表面形成氧化硅底层;步骤五:在所述第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层由上到下刻蚀形成凹槽,所述凹槽的底部延伸至所述第一P型外延层内,在所述凹槽的侧壁形成第二氧化硅层;步骤六:在所述N型衬底和所述第二P型外延层的上方形成第三氧化硅层;步骤七:在所述第三氧化硅层上分别形成通孔,在所述通孔中形成金属层,在所述第二氧化硅层上形成贯穿的接触孔,在所述接触孔和凹槽中沉积形成第一电极,在所述N型衬底的底部形成第二电极;步骤八:在所述第三氧化硅层和第一电极的上表面形成氧化硅钝化层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造