[发明专利]一种功率元件的保护器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810257531.7 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN108417534B 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 于洋 申请(专利权)人: 南京恒众信息科技有限公司
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82;H01L27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211200 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种功率元件的保护器件及其制作方法,涉及半导体器件技术领域,首先,提供N型衬底,在N型衬底内形成第一氧化硅层,刻蚀去除第一氧化硅层的底部;其次,依次形成第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层,在第一P型外延层的下表面形成氧化硅底层;再次,在第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层内凹槽的侧壁形成第二氧化硅层;然后,形成第三氧化硅层及金属层,形成第一电极和第二电极;最后,表面形成氧化硅钝化层。该技术方案通过采用埋层工艺实现了TVS的集成,提高了器件抗浪涌能力,减小了器件的面积,实现了高端IC的小尺寸封装,缓解了现有技术存在的抗浪涌能力低、器件面积大的技术问题。
搜索关键词: 一种 功率 元件 保护 器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种功率元件的保护器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:提供N型衬底,在所述N型衬底上通过干法刻蚀形成沟槽,在所述沟槽的侧壁形成第一氧化硅层;步骤二:刻蚀去除所述第一氧化硅层的底部;步骤三:在所述沟槽内由下到上依次形成第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层;步骤四:由N型衬底的背面进行氧注入,在所述第一P型外延层的下表面形成氧化硅底层;步骤五:在所述第一P型外延层、N型外延层和第二P型外延层由上到下刻蚀形成凹槽,所述凹槽的底部延伸至所述第一P型外延层内,在所述凹槽的侧壁形成第二氧化硅层;步骤六:在所述N型衬底和所述第二P型外延层的上方形成第三氧化硅层;步骤七:在所述第三氧化硅层上分别形成通孔,在所述通孔中形成金属层,在所述第二氧化硅层上形成贯穿的接触孔,在所述接触孔和凹槽中沉积形成第一电极,在所述N型衬底的底部形成第二电极;步骤八:在所述第三氧化硅层和第一电极的上表面形成氧化硅钝化层。
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