[发明专利]一种提高发光效率的LED外延生长方法在审

专利信息
申请号: 201810204433.7 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN108447951A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 徐平 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/14
代理公司: 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 代理人: 郑隽;吴婷
地址: 423038 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开了一种提高发光效率的LED外延生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、交替生长InxGa(1‑x)N/GaN发光层、生长AlyGa(1‑y)N电子阻挡层、生长掺杂Mg的P型GaN层、以及降温冷却,其中AlyGa(1‑y)N电子阻挡层由下至上依次包括Al组分线性增加AlyGa(1‑y)N‑1层、Al组分恒定AlyGa(1‑y)N‑2层、Al组分线性减少AlyGa(1‑y)N‑3层。本发明通过设计新的AlyGa(1‑y)N电子阻挡层结构来提高空穴注入效率和电子约束能力,从而提高LED的发光效率。
搜索关键词: 电子阻挡层 发光效率 生长 外延生长 掺杂 恒定 空穴注入效率 不掺杂GaN层 低温缓冲层 降温冷却 交替生长 线性减少 线性增加 约束能力 发光层 衬底 申请
【主权项】:
1.一种提高发光效率的LED外延生长方法,其特征在于,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、交替生长InxGa(1‑x)N/GaN发光层、生长AlyGa(1‑y)N电子阻挡层、生长掺杂Mg的P型GaN层、以及降温冷却;所述生长AlyGa(1‑y)N电子阻挡层的过程包括如下步骤:1)保持反应腔压力200~400mbar、温度900~950℃,连续通入流量为50000~70000sccm的NH3、30~60sccm的TMGa、100~130L/min的H2、100~130sccm的TMAl及1000~1300sccm的Cp2Mg,持续生长厚度为20~30nm的AlyGa(1‑y)N‑1层,其中,Al的组分含量y沿外延生长方向从0%到15%线性增加,Mg的掺杂浓度为1E19~1E20atoms/cm3;2)保持反应腔压力和温度、以及NH3流量、H2流量、TMGa流量、TMAl流量、Cp2Mg流量的生长反应条件不变,在AlyGa(1‑y)N‑1层上持续生长厚度为10~15nm的AlyGa(1‑y)N‑2层,其中,Al的组分含量y恒定为15%,Mg的掺杂浓度为1E19~1E20atoms/cm3;3)保持反应腔压力和温度、以及NH3流量、H2流量、TMGa流量、TMAl流量、Cp2Mg流量的生长反应条件不变,在AlyGa(1‑y)N‑2层上持续生长厚度为20~30nm的AlyGa(1‑y)N‑3层,其中,Al的组分含量y沿外延生长方向从15%到0%线性减少,Mg的掺杂浓度为1E19~1E20atoms/cm3。
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