[实用新型]一种LED芯片研磨后外观检测平台

摘要

本实用新型公开了一种LED芯片研磨后外观检测平台，包括工作台，所述工作台的左侧面通过灯架连接有一个照射工作台上表面的射灯；所述工作台上表面具有一个凹槽；所述工作台的右侧面中间部分向内水平开设有一个空槽；所述凹槽和空槽的中间通过一根竖直设置的套管连通；所述套管中间通过轴承转动连接有有一根竖直设置的转轴；所述转轴的上端水平固定连接有一个转盘；所述转盘上表面通过螺栓连接有一个圆形的陶瓷盘；所述转轴的下端固定连接有一个从动齿轮；所述空槽内通过轴承转动连接有一根竖直设置的转杆；所述转杆上固定连接有一个与从动齿轮啮合的主动齿轮。本实用新型可以只需一次调整射灯方向就能进行多片芯片的片检。

主权项

一种LED芯片研磨后外观检测平台，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的左侧面通过灯架（3）连接有一个照射工作台（1）上表面的射灯（2）；所述工作台（1）上表面具有一个凹槽（4）；所述工作台（1）的右侧面中间部分向内水平开设有一个空槽（5）；所述凹槽（4）和空槽（5）的中间通过一根竖直设置的套管（6）连通；所述套管（6）中间通过轴承转动连接有一根竖直设置的转轴（7）；所述转轴（7）的上端水平固定连接有一个转盘（8）；所述转盘（8）上表面通过螺栓（11）连接有一个圆形的陶瓷盘（9）；所述陶瓷盘（9）的上表面沿着圆周方向等距贴有若干芯片（10）；所述转轴（7）的下端固定连接有一个从动齿轮（12）；所述空槽（5）内通过轴承转动连接有一根竖直设置的转杆（13）；所述转杆（13）上固定连接有一个与从动齿轮（12）啮合的主动齿轮（14），其中所述主动齿轮（14）的右侧伸出所述空槽（5）外。