[实用新型]一种改善激光器芯片边模抑制比的新型结构有效

专利信息
申请号: 201720685929.1 申请日: 2017-06-12
公开(公告)号: CN206864866U 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 张海超;潘彦廷;罗俊岗;王兴;师宇晨;刘从军 申请(专利权)人: 陕西源杰半导体技术有限公司
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12;H01S5/30
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 徐文权
地址: 712000 陕西省西安市西咸新区沣西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种改善激光器芯片边模抑制比的新型结构,包括自下而上依次设置的基板、有源层和包层,包层中设置有光栅层,激光器芯片的左右两端分别设置有抗反射镀膜层和高反射镀膜层,设定一个光栅周期包括自左向右依次设置的0.25个周期的Inp、0.5个周期的InGaAsP和0.25个周期的Inp,光栅连续排布形成光栅层,光栅层靠近高反射镀膜层一端的侧面与光栅周期零点之间的距离为0.1个光栅周期~0.25个光栅周期,在此距离范围内芯片的SMSR最大,从而提高了芯片的SMSR特性,从而大幅提高芯片良率,且此结构的工艺技术简单,稳定,成本低。
搜索关键词: 一种 改善 激光器 芯片 抑制 新型 结构
【主权项】:
一种改善激光器芯片边模抑制比的新型结构,其特征在于,包括自下而上依次设置的基板(1)、有源层(2)和包层(4),包层(4)中设置有光栅层(3),激光器芯片的左右两端分别设置有抗反射镀膜层(8)和高反射镀膜层(7),设定一个光栅周期包括自左向右依次设置的0.25个周期的Inp、0.5个周期的InGaAsP和0.25个周期的Inp,光栅连续排布形成光栅层(3),光栅层(3)靠近高反射镀膜层(7)一端的侧面与光栅周期零点之间的距离为0.1个光栅周期~0.25个光栅周期。
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