[发明专利]耐冲击减震结构及电子装置有效

专利信息
申请号: 201711465216.5 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN109390288B 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 庄瑞彰;蔡镇竹;张凯铭;张志嘉;郑莛薰 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院;创智智权管理顾问股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种耐冲击减震结构及电子元件。耐冲击减震结构包括阻抗叠层以及缓冲叠层。阻抗叠层配置于电子元件的第一表面上,缓冲叠层配置于电子元件的第二表面上,电子元件的第一表面以及第二表面相对应。缓冲叠层包括软膜层以及支撑层。支撑层配置于软膜层与电子元件之间。
搜索关键词: 冲击 减震 结构 电子 装置
【主权项】:
1.一种耐冲击减震结构,适用于电子元件,其特征在于,该耐冲击减震结构包括:阻抗叠层,配置于所述电子元件的第一表面上;以及缓冲叠层,配置于所述电子元件的第二表面上,其中所述第二表面与所述第一表面相对应,所述缓冲叠层包括:软膜层;以及支撑层,所述支撑层配置于所述软膜层与所述电子元件之间。
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