[发明专利]一种大面积超分辨光刻装置有效
申请号: | 201711346477.5 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108089409B | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 罗先刚;赵承伟;李猛;王长涛;赵泽宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种大面积超分辨光刻装置,属于超分辨光刻设备的技术领域。该装置包括隔振地基、主动隔振平台、主基板、紫外曝光光源、间隙检测系统、对准模块、超分辨光刻镜头模块、工件台模块、激光干涉测量系统、超精密环控系统和控制系统。该设备通过干涉技术,实现了纳米量级精度的在线间隙检测;通过精密调平和间隙控制技术,实现了几十纳米量级间隙光刻功能;通过承片台局部气控技术,实现了大面积超分辨步进光刻功能。 | ||
搜索关键词: | 超分辨 光刻 超分辨光刻装置 纳米量级 激光干涉测量系统 间隙检测系统 主动隔振平台 光刻设备 环控系统 间隙检测 间隙控制 镜头模块 控制系统 紫外曝光 超精密 承片台 工件台 主基板 步进 隔振 气控 光源 地基 精密 对准 干涉 | ||
【主权项】:
1.一种大面积超分辨光刻装置,其特征在于:包括隔振地基(1)、主动隔振平台(2)、主基板(3)、紫外曝光光源(4)、间隙检测系统(5)、对准模块(6)、超分辨光刻镜头模块(7)、工件台模块(8)、六轴激光干涉测量系统(9)、超精密环控系统(10)和控制系统(11);紫外曝光光源(4)、间隙检测系统(5)、对准模块(6)、超分辨光刻镜头模块(7)和六轴激光干涉测量系统(9)都安装在主基板(3)上,主基板(3)安装在主动隔振平台(2)上,主动隔振平台(2)安装在隔振地基(1)上,整个设备安装在超精密环控系统(10)内,控制系统(11)安装在超精密环控系统(10)外面的隔振地基(1)上;紫外曝光光源(4)为整个超分辨光刻装置提供365±5nm的紫外曝光光束;间隙检测系统(5)共包含三套相同的检测模块,检测模块包括光谱仪(12)、光谱仪光源(13)、光纤(14)、探头(15),检测模块通过探头安装板(16)安装在超分辨光刻镜头模块(7)上;对准模块(6)共包括两套,左右对称安装在主基板(3)上,对准模块(6)包括调节平台(17)、CCD(18)、远心镜头(19)、LED光源(20)和折转棱镜(21),其中CCD(18)安装在调节平台(17)上,远心镜头(19)与CCD(18)连接,LED光源(20)、折转棱镜(21)安装在远心镜头(19)上;超分辨光刻镜头模块(7)包括滑轨安装板(22)、滑轨(23)、镜头安装板(24)、超分辨光刻镜头(25)、弹簧顶销(26)、拉手(27)和锁紧螺钉(28),其中滑轨安装板(22)安装在主基板(3)的底部,两根滑轨(23)安装在滑轨安装板(22)上,一定数量的弹簧顶销(26)安装在滑轨(23)上,镜头安装板(24)安装在滑轨安装板(22)与滑轨(23)的滑槽中,超分辨光刻镜头(25)和拉手(27)安装在镜头安装板(24)上,同时拉手(27)通过锁紧螺钉(28)固定在滑轨安装板(22)上;工件台模块(8),包括六轴精密位移台(29)、六轴纳米位移台(30)、气路板(31)、承片台(32)、定制密封圈(33)、密封圈压环(34)和基片(35),六轴精密位移台(29)安装在主动隔振平台(2)上,六轴纳米位移台(30)安装在六轴精密位移台(29)上,气路板(31)安装在六轴纳米位移台(30)上,承片台(32)安装在气路板(31)上,定制密封圈(33)通过密封圈压环(34)安装在承片台(32)上,基片(35)吸附在承片台(32)上;承片台(32)分区域加工有密孔,气路板(31)布置有密集气道,气路板(31)气道与承片台(32)密孔一一对应。
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