[发明专利]集成电路封装结构在审
申请号: | 201711069934.0 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN109755186A | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 雷素萍 | 申请(专利权)人: | 雷素萍 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种集成电路封装结构,包括集成电路、基底和外壳,所述集成电路设置在基底上,基底与外壳之间设置有填充层,所述基底底部设置有金属层,金属层上设置有半切口。本发明结构简单,设计合理,设置半切口将金属层分开为多个小的金属层区域,从而释放应力,以解决回流焊工艺期间,集成电路封装的脱层问题。 | ||
搜索关键词: | 基底 金属层 集成电路封装结构 集成电路 集成电路封装 金属层区域 回流焊 填充层 脱层 释放 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路封装结构,包括集成电路、基底和外壳,其特征在于:所述集成电路设置在基底上,基底与外壳之间设置有填充层,所述基底底部设置有金属层,金属层上设置有半切口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于雷素萍,未经雷素萍许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711069934.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:封装体结构及半导体器件的封装方法
- 下一篇:半导体封装装置及其制造方法