[发明专利]化学气相沉积设备及成膜方法在审

专利信息
申请号: 201711067347.8 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN107779845A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 谢锐 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: C23C16/46 分类号: C23C16/46
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 郝传鑫,熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种化学气相沉积设备及其用于成膜的方法,通过在所述基座下方加装导体线圈,所述导体线圈接通交流电后,产生交变磁场引发涡流效应对所述基座Susceptor进行加热,使所述基座Susceptor受热更均匀同时交变磁场作用于所述基座Susceptor上方等离子体Plasma,使等离子体Plasma更均匀,在所述基体上方沉积薄膜单一性更好,改善薄膜的Mura现象,改善化学气相沉积的膜质,提升良率。
搜索关键词: 化学 沉积 设备 方法
【主权项】:
一种化学气相沉积设备,其特征在于,包括:相互平行的第一电极板和第二电极板,所述第一电极板接射频电源,所述第二电极板接地;一基体,用于承载化学气相沉积所形成的薄膜,所述基体放置于所述第一电极板和所述第二电极板间;一线圈载体,所述线圈载体位于所述基体下方,所述线圈载体上设有导体线圈。
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