[发明专利]芯片测试分类机器人有效
| 申请号： | 201710296021.6 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN106938255A | 公开（公告）日： | 2017-07-11 |
| 发明（设计）人： | 陆军;王毅;陈尔军;吉俊;郝雪闯 | 申请（专利权）人： | 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京文苑专利代理有限公司11516 | 代理人： | 何新平 |
| 地址： | 225100 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试分类机器人，包括多轨振动上料组件(1)，筛选组件(2)，下压组件(3)，多头旋转组件(4)和收料组件(5)；下压组件(3)下方连接有多头旋转组件(4)；多头旋转组件(4)包括工作分度圆盘(41)、多个吸嘴组件(42)和真空分度盘(43)，真空分度盘(43)设置在工作分度圆盘(41)的轴心位置上，多个吸嘴组件(42)按照等分的间距设置在工作分度圆盘(41)上。该芯片测试分类机器人通过振动盘搭配高速DDR马达传动以及多个测试工位，达到单测、顺测、并测等多样化测试方式，从而提高工作效率、降低人工及材料成本、降低劳动强度和优化生产线等优异效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 分类 机器人 | ||
【主权项】：
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