[发明专利]像素结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710207090.5 申请日: 2017-03-31
公开(公告)号: CN106898621B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 许世华;蔡佳宏;刘冠显;陈维翰;吴安茹;涂峻豪;刘竹育 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/423;H01L21/84;H01L21/28
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;田景宜
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种像素结构及其制造方法,该像素结构包括薄膜晶体管及像素电极。薄膜晶体管包括源极、漏极、半导体层及栅极。半导体层位于源极与漏极上且具有设置于源极与漏极之间的通道。栅极包括主要部及辅助部。主要部与源极、漏极和通道重迭设置。辅助部位于主要部外且与主要部电性连接。主要部与辅助部之间具有间隙。像素电极与漏极电性连接。上述像素结构的制造方法也被提出。
搜索关键词: 像素 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种像素结构,其特征在于,包括:一薄膜晶体管,包括:一源极与一漏极;一半导体层,位于该源极与该漏极上且具有一通道,该通道设置于该源极与该漏极之间;以及一栅极,包括:一主要部,与该源极、该漏极以及该通道重迭设置;以及一辅助部,位于该主要部外且与该主要部电性连接,其中该主要部与该辅助部之间具有一间隙;以及至少一连接部,电性连接于该辅助部与该主要部之间;以及一像素电极,与该薄膜晶体管的该漏极电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710207090.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top