[发明专利]基准面的位置测量方法有效
申请号: | 201710066110.1 | 申请日: | 2017-02-06 |
公开(公告)号: | CN107084693B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 迪尔尚·费尔南多 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 魏金霞;高源<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种位置测量方法,该位置测量方法是在加工工件时通过探针(P)测量工件的由固定工具支承的基准面(RS)的位置(Xj)的方法。根据该位置测量方法,使探针(P)在多个不同的位置(P1、P2、P3、P4)处与基准面(RS)相接触,并且测量基准面(RS)的高度。然后,将基准面(RS)的高度最大的位置(Xp)设定为基准面(RS)的位置。 | ||
搜索关键词: | 基准面 位置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种位置测量方法,所述位置测量方法通过探针测量工件的在加工所述工件时由固定工具支承的基准面的位置,所述探针具有位于所述探针的稍端处的球状部,所述固定工具具有位于所述固定工具的稍端处的球状支承部,所述球状部的直径小于所述球状支承部的直径,并且所述基准面具有包括凹部的凹凸部,所述凹凸部允许所述球状部的至少一部分进入所述凹部,所述位置测量方法包括:/n使所述探针的所述球状部在多个不同位置处与所述基准面接触,并且测量所述基准面的高度;以及/n将所述基准面的所述高度为最大的位置设定成所述基准面的位置。/n
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