[发明专利]基准面的位置测量方法有效

专利信息
申请号: 201710066110.1 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN107084693B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 迪尔尚·费尔南多 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 魏金霞;高源<国际申请>=<国际公布>=
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 基准面 位置 测量方法
【说明书】:

本发明提供了一种位置测量方法,该位置测量方法是在加工工件时通过探针(P)测量工件的由固定工具支承的基准面(RS)的位置(Xj)的方法。根据该位置测量方法,使探针(P)在多个不同的位置(P1、P2、P3、P4)处与基准面(RS)相接触,并且测量基准面(RS)的高度。然后,将基准面(RS)的高度最大的位置(Xp)设定为基准面(RS)的位置。

技术领域

本发明涉及一种在对工件进行加工时的基准面的位置测量方法。

背景技术

具有对工件的测量基准点进行设定的功能的机床是已知的。机床构造成获得工件的中心坐标并且将中心坐标设定为用于测量例如工件的形状的测量基准点(参见日本专利申请公开No.2010-89182(JP 2010-89182 A))。机床根据以下步骤对工件的测量基准位置进行设定。

首先,具有相对于彼此垂直的两条线中的每条线都对称的加工表面的工件被布置成使得机器坐标系的轴线平行于所述两条线。接下来,机上测量设备的探针的球状测量部沿着与所述两条线中的一条线平行的第一条线从工件的加工表面上的位置朝向工件的端表面相对于工件移动。

在球状测量部移动离开工件的端表面之后,存储探针在其轴向方向上的移动速度达到预定速度时的坐标。接着,对于与两条线中的另一条线平行的第二条线执行相同的步骤,并且存储坐标。接着,从存储的坐标获得中点。所获得的中点是工件的中心坐标,并且可以被设定成工件的测量基准位置。

发明内容

在某些情况下,如在JP 2010-89182 A中所描述的,通过在其稍端具有球状测量部的探针来对工件的基准面的位置和工件相对于基准面的加工位置进行测量,并且基于测量结果对工件进行加工。在这种情况下,构造成对工件进行加工的加工设备将构造成对工件进行固定的固定工具的稍端处的球状部推靠在工件的基准面上,然后相对于基准面固定工件,再基于由探针获得的测量结果在相对于基准面的加工位置处对工件进行加工。

然而,探针稍端处的球状测量部的直径是例如几毫米或更小的小直径。因此,当对在其表面上具有相对粗糙的凹凸部的工件——比如铸造产品——的基准面的位置进行测量时,球状测量部可进入工件的表面的凹部。另一方面,与工件的表面的凹凸部相比,用于固定工件的固定工具的稍端处的球状部的直径通常是足够大的直径。因此,与探针的稍端处的球状测量部不同,固定工具的球状部不会进入工件表面的凹部。

因此,在工件的由探针测量的基准面的位置与工件的由固定工具支承的基准面的位置之间可能产生偏差。在这种情况下,可能在工件的相对于由探针测量的基准面的加工位置与工件的相对于由固定工具支承的基准面的加工位置之间产生误差。

本发明提供了一种基准面的位置测量方法,该位置测量方法使得可以通过探针精确地测量由固定工具支承的基准面的位置。

本发明的一方面涉及一种通过探针测量工件的在加工工件时由固定工具支承的基准面的位置的位置测量方法。所述位置测量方法包括:使所述探针在多个不同位置处与所述基准面接触,并且测量所述基准面的高度;以及将所述基准面的所述高度为最大的位置设定成所述基准面的位置。

根据上述方面的基准面的位置测量方法被用于测量通过例如加工设备加工的工件的基准面的位置。基准面用作工件的加工位置的基准。例如,可以将在其稍端具有球状支承部的销形夹头用作固定工具。例如,可以将在其稍端具有球状部并且在三维测量机中使用的销形探针用作探针。与基准面接触的探针的球状部的直径例如为数毫米左右。固定工具的稍端处的球状支承部的直径例如为10mm或更大。

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