[实用新型]一种碳化硅品质检验装置有效
| 申请号： | 201620030649.2 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN205749307U | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 宗艳民 | 申请（专利权）人： | 山东天岳先进材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N9/24;G01N29/04 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 苗峻 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新区新*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种碳化硅品质检验装置，包括电源、存储器、MCU处理器和计算机控制装置，所述电源和存储器均与MCU处理器电性连接，所述计算机控制装置通过数据采集与处理装置和MCU处理器信号连接，所述MCU处理器电性连接有电子显微镜、LED显示屏和控制按钮，所述MCU处理器还电性连接有CCD扫描装置。本实用新型智能化程度高，设计合理，操作简单，很好地解决了现有技术对碳化硅检测效率低和精度低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化硅 品质 检验 装置 | ||
【主权项】：
一种碳化硅品质检验装置，包括电源、存储器、MCU处理器和计算机控制装置，其特征在于：所述电源和存储器均与MCU处理器电性连接，所述计算机控制装置通过数据采集与处理装置和MCU处理器信号连接，所述MCU处理器电性连接有电子显微镜、LED显示屏和控制按钮，所述MCU处理器还电性连接有CCD扫描装置。
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